SIL验证中硬件故障裕度（HFT）的确定 - 技术分享 - PROCESS流程工业

SIL验证中硬件故障裕度（HFT）的确定

仪控加油站 2024-10-15

今天，流程君为大家分享范咏峰老师《SIL验证中硬件故障裕度（HFT）的确定》文章，以供大家学习交流。

今天，流程君为大家分享范咏峰老师《SIL验证中硬件故障裕度（HFT）的确定》文章，以供大家学习交流。

硬件故障裕度（HFT）

部件或子系统在出现一个或几个硬件故障的情况下，功能单元继续执行所要求的安全仪表功能的能力。

HFT=N 意味着部件或子系统在出现N个硬件故障的情况下，功能单元仍然能够继续执行所要求的安全仪表功能。

T/CCSAS045—2023 安全仪表功能(SIF)

安全完整性等级(SIL)验证导则

7.5 结构约束验证

7.5.1 每个SIF均应满足结构约束要求,结构约束要求可通过HFT的要求表达。

7.5.2 当SIS可被分解成独立的SIS子系统时(如传感器、逻辑解算器及最终元件),则HFT 可在SIS子系统层级指定。

7.5.3 SIS或SIS子系统的HFT和相关要求应按照以下3种路线之一确定：

a) 符合表5的要求，并且全可变语言(FVL)和有限可变语言(LVL)可编程设备的诊断覆盖率应不小于60%,并且失效量计算中使用的可靠性数据应由不小于70%的统计置信区间上限确定；

注1：此路线同GB/T21109.1—2022中11.4.5～11.4.9建立的路线。GB/T21109.1—2022中建立的路线源自GB/T20438.2—2017中的路线2H。

b) 符合表6的要求和GB/T20438.2—2017中7.4.4.2(路线1H)的要求；

注2：GB/T20438.2—2017中的路线1H 基于硬件故障裕度和安全失效分数的概念。

c) 符合表5的要求和GB/T20438.2—2017中7.4.4.3(路线2H)的要求。

注3：GB/T20438.2—2017中的路线2H 基于由最终用户反馈的元器件可靠性数据、对指定的安全完整性等级增强的置信度和硬件故障裕度。

GB/T 21109.1-2022 过程工业领域安全仪表系统

GB/T 21109.1-2022 过程工业领域安全仪表系统的功能安全第1部分：框架、定义、系统、硬件和应用编程要求

文章内容来源仪控加油站，流程工业整理编辑，责任编辑：胡静，审核人：李峥

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